Японские физики разработали подход, позволяющий мгновенно и точно измерять температуры внутри электронных чипов и других сложно устроенных и чувствительных к нагреву приборов при помощи потока нейтронов низких энергий. Технология позволит повысить эксплуатационные характеристики устройств и сделает их более безопасными для пользователей. Об этом со ссылкой на Университет Осаки (Япония) сообщило информационное агентство «ТАСС».

«Данная технология позволяет очень точно и мгновенно замерять температуру. Наша методика не является деструктивной, что позволяет использовать ее для мониторинга температур внутри литиевых аккумуляторов и прочих типов батарей, а также различных полупроводниковых устройств», - заявил научный сотрудник Университета Осаки Лань Цзэчэнь.

Разработанная учеными система представляет собой набор из нескольких детекторов нейтронов, а также специальной лазерной установки, способной вырабатывать поток из нейтронов низких энергий. Свойства этих частиц были подобраны физиками таким образом, что нейтроны активно поглощаются ядрами атомов в изучаемых объектах, причем частота этих взаимодействий сильно зависит от температуры материала.

Работу этой методики замера температур ученые проверили при помощи петаваттного японского лазера LFEX, способного вырабатывать очень короткие, но интенсивные вспышки инфракрасного излучения. Взаимодействия этих вспышек с наборами атомов водорода и дейтерия, а также с пленками из бериллия или лития приводит к формированию сконцентрированных пучков из сотен миллиардов нейтронов, которые можно использовать для замеров температуры.

Подготовил Роман БОНДАРЧУК, УзА.